Estudo da correlacao entre propriedades nao ohmicas, processos de relaxacao dieletrica e microestrutura de sistemas ceramicos policristalinos do tipo (ca1/4cu3/4)tio3.

• Processo: 07/57968-6
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2008
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2010
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
• Pesquisador responsável: Paulo Roberto Bueno
• Beneficiário: Willian Campos Ribeiro
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Assunto(s): Microestruturas
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Constante Dieletrica | Microestrutura | Processos De Relaxacao | Propriedades Nao Ohmica | Regioes De Contorno

Resumo

O sistema policristalino do tipo CaCu3Ti4012 (CCTO) é bastante visado por suas diversas aplicações. Como material dielétrico ele tem destaque na literatura pelo elevado valor desta propriedade. Pode ser utilizado como dispositivo de sobretensão sendo o compósito CaTiO3/CaCu3Ti4O12 uma promessa na área de varistores (propriedade não-ôhmica). Também foi proposta sua utilização como sensor a gás. Aliando-se a esta gama de propriedades à facilidade na obtenção da matéria-prima e o processamento simples quando comparado a outros sistemas, o CCTO se torna bastante atrativo. O entendimento da natureza e origem das propriedades citadas acima, assim como a relação entre elas, que ocorrem no CCTO poderá promover o seu uso de forma extensiva com a otimização do material. Os modelos de barreira capacitiva interna ao contorno de grão (IBLC, sigla em inglês para internal barrier layer capacitor) e o dos domínios internos ao grão tentam explicar os mecanismos dos processos de relaxação que ocorrem no CCTO. A não linearidade entre densidade de corrente e campo elétrico apresentada é superior aos valores normalmente encontrados e a relação campo elétrico de ruptura e tamanho médio de grão parece fugir do padrão para varistores tradicionais (varistores de óxidos metálicos - MOVs). Portanto, a caracterização elétrica, em corrente contínua e em corrente alternada, e microestrutural, assim como o estudo da físico-química da região do contorno de grão e dos defeitos no interior do grão, os domínios de grão, são importantes para o conhecimento da relação síntese, microestrutura e propriedades no CCTO. (AU)

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

RIBEIRO, Willian Campos. Estudo da correlação entre propriedades não-ôhmicas, processos de relaxação dielétrica e microestrutura de cerâmicas policristalinas do tipo (Ca IND. 1/4 Cu IND. 3/4)TiO IND. 3. 2010. Dissertação de Mestrado - Universidade Estadual Paulista (Unesp). Instituto de Química. Araraquara Araraquara.