Filmes com propriedades catalíticas para pistões automotivos

• Processo: 08/56498-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pesquisa Inovativa em Pequenas Empresas - PIPE
• Data de Início da vigência: 01 de outubro de 2008
• Data de Término da vigência: 31 de março de 2009
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Melchior Antonio Momesso
• Beneficiário: Melchior Antonio Momesso
• Empresa: Nantex Nanotecnologia Experimental Ltda
• Vinculado ao auxílio: 07/51763-3 - Filmes com propriedades catalíticas para pistões automotivos, AP.PIPE
• Assunto(s): Pistões Catalisadores Materiais compósitos Processo sol-gel Espalhamento de raios X a baixos ângulos Difração por raios X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Catalisador | Difracao De Raio-X | Filmes Metalicos | Nanaotecnologia | Processos Sol-Gel | Reacoes De Combustoes

Resumo

Durante o período da bolsa o candidato deverá estabelecer as condições de síntese de sóis estáveis, à base de óxido de cério, paládio e lantânio, que levaram à obtenção de filmes que serão estudados em suas propriedades catalíticas. Estes sóis serão depositados na forma de filmes sobre placa de vidro e uma vez estabelecidas às condições ideais, os sóis serão aplicados sobre a cabeça dos pistões anodizados. Filmes compósitos com propriedades catalíticas serão estudados e as propriedades de interesse investigadas. Tanto a síntese dos precursores, bem como os materiais projetados serão preparados por tecnologia desenvolvida e voltada, tanto para caracterização de cada etapa do processo de obtenção dos materiais alvo, bem como o estudo das propriedades. Assim, o estudo dos sóis precursores por SAXS (espalhamento de raios X a baixo ângulo), permite avaliar a distribuição de tamanho de partículas e sintonizar as características buscadas. Por difração de raios X é possível avaliar o grau de cristalinidade e tamanho dos domínios de difração coerente (cristalitos). A técnica de refletometria de raios X, técnica não destrutiva, permite conhecer o perfil de densidade de filmes, espessura e rugosidade. Tanto o conhecimento adquirido bem como as disponibilidades de equipamentos permite o estudo dos diferentes dispositivos e suas propriedades. (AU)