Estudo do efeito da incorporação de nanofios de ITO em polímeros: ênfase nas propriedades elétricas e ópticas

• Processo: 10/04732-8
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado
• Data de Início da vigência: 01 de agosto de 2010
• Data de Término da vigência: 31 de julho de 2012
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Marcelo Ornaghi Orlandi
• Beneficiário: Joyce Oliveira Salvino
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Assunto(s): Materiais compósitos Polipropilenos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: compósitos de matriz polimérica | Nanofios de ITO | polipropileno | Pvb | Compósitos

Resumo

Pretende-se neste trabalho obter compósitos de matriz polimérica transparentes na região do espectro visível e condutores. Os nanocompósitos serão obtidos através da incorporação nos polímeros de diferentes quantidades em volume de uma fase convidada, que neste caso são os nanofios de ITO, oxido de índio dopado com estanho, que serão crescidos pelo método de redução carbotérmica. Os polímeros escolhidos são transparentes e apresentam polaridades opostas, sendo o PVB (polivivil butiral) um polímero polar e o PP (polipropileno) apolar. Neste caso, deseja-se conhecer os efeitos de diferentes tipos de polímeros na interação da matriz com a faze convidada. Os polímeros atuam como a fase hospedeira e os nanofios de ITO como fase convidada. Sabendo que as propriedades do compósito formado dependem das proporções hospedeiro/fase convidada, este trabalho estudará também esses efeitos. Para tanto, estudaremos as propriedades ópticas e elétricas (ac e dc) dos compósitos através de técnicas de UV-Vis, medidas de condutividade 2 pontas e espectroscopia de impedância. A interação da fase convidada com o polímero será estudada através se análises de secção transversal de fratura dos filmes formados por microscopia eletrônica de varredura (FEG-MEV) e o inicio da percolação será estudado por microscopia eletrônica de transmissão (TEM), e os resultados obtidos por TEM serão comparados com os de resistência elétrica.