Operação do difratômetro de raios X e caracterização estrutural de óxidos niobatos da família tungstênio bronze

• Processo: 10/12794-3
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Programa Capacitação - Treinamento Técnico
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2010
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2011
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Silvania Lanfredi
• Beneficiário: Alan Rogério Ferreira Lima
• Instituição Sede: Faculdade de Ciências e Tecnologia (FCT). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Presidente Prudente. Presidente Prudente , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 07/03510-9 - Caracterização estrutural de nanopós de óxidos semicondutores ferroelétricos, AP.R
• Assunto(s): Cerâmica (materiais cerâmicos) Niobatos Difração por raios X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Caracterização estrutural | Difratômetro de Raios X | Estrutura Tungstênio Bronze | Identificação de fases | Nanopós | Niobatos | Cerâmica

Resumo

A bolsa TT-3 será vinculada à operação do difratômetro de raios X (Shimadzu - modelo XRD 6000) e à caracterização estrutural de óxidos nanoestruturados da família tungstênio bronze (TB) de simetria tetragonal. Os parâmetros estruturais dos óxidos sintetizados serão determinados utilizando-se o método de Rietveld, empregando o programa FULLPROF. Para tanto, as medidas por difração de raios X serão realizadas com tempo maior de integração, no intervalo angular com 2 theta variando de 5 até 80 graus com um passo de 0,02 graus e uma contagem de tempo fixa de 30 s. A partir da determinação dos parâmetros cristalográficos será construída a cela unitária dos óxidos nanoestruturados da família TB, utilizando o programa Diamond 3.2®. (AU)