Suporte à preparação de amostras e medidas de espalhamento de raios X a baixo ângulo, refletometria de raios X e de adsorção de gases de materiais porosos ordenados

• Processo: 11/11304-5
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Programa Capacitação - Treinamento Técnico
• Data de Início da vigência: 01 de julho de 2011
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2013
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Celso Valentim Santilli
• Beneficiário: Alex Cecconi de Souza
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 07/53073-4 - Cerâmicas mesoporosas e hibridos orgânico-inorgânicos multifuncionais preparados pelo processo sol-gel, AP.TEM
• Assunto(s): Espalhamento de raios X a baixos ângulos Cristalografia
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: adsorção de nitrogenio | Mesoporosos | Saxs | Xrr | Cristalografia

Resumo

O trabalho consiste na preparação de amostras-padrão e realização de medidas reprodutíveis de espalhamento de raios X a baixo ângulo (SAXS), utilizando fonte de radiação convencional e detetores image plate e sensível à posição de materiais porosos na forma de pó. Medidas de refletometria de raios X (XRR) de filmes finos de materiais porosos serão realizadas variando-se a orientação do feixe de raios X sobre a superfície da amostra. O trabalho também envolve medidas de adsorção gasosa (NAI) em sistemas porosos com estrutura bi-dimensional hexagonal e cúbica na forma de gaiola.