Microscopia de força atômica para caracterização de arcabouços: topografia, forças de adesão

• Processo: 22/01784-4
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Programa Capacitação - Treinamento Técnico
• Data de Início da vigência: 01 de junho de 2022
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2023
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
• Pesquisador responsável: Denise Freitas Siqueira Petri
• Beneficiário: Marília Lopes de Souza
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 18/13492-2 - Arcabouços sintéticos e naturais aplicados à medicina regenerativa, AP.TEM
• Assunto(s): Microscopia de força atômica Topografia Polímeros (materiais)
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: arcabouços | forças de adesão | microscopia de força atomica | Topografia | Materiais poliméricos

Resumo

As atividades ficarão concentradas na operação plena do microscópio de força atômica que foi adquirido neste projeto. As medidas de microscopia de força atômica (AFM), nos seus diferentes modos de operação, servirão para caracterizar os arcabouços produzidos pelos grupos dos Profs Drs. Catalani (coordenador), Torresi (pesquisadora principal) e Petri (pesquisadora principal) e para atender usuários externos, uma vez que o AFM é um equipamento multiusuário (EMU FAPESP 2019/08178-0) e ficará acessível, via Central Analítica do IQUSP.