Estudo das propriedades dosimetricas de cristais ionicos e vidros oxidos atraves das tecnicas de cpte, cdte e analise de impedancia.

• Processo: 01/04191-8
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de novembro de 2001
• Data de Término da vigência: 31 de outubro de 2004
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física Nuclear
• Pesquisador responsável: Ana Regina Blak
• Beneficiário: Mário Sandro Francisco da Rocha
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Dosimetria Vidro Óxidos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Analise De Impedencia | Danos De Radiacao | Dosimetria | Oxidos | Vidros

Resumo

O efeito imediato da radiação ionizante sobre os materiais isolantes e semicondutores é a formação de centros de elétrons e de buracos. Esses centros estão amplamente presentes nos minerais naturais, mas podem também ser criados em vidros e em praticamente todos os cristais por irradiação com raios X e gama, nêutrons e elétrons. Em nosso trabalho usaremos as técnicas de Correntes de Polarização e Despolarização Termicamente Estimuladas (CPTE e CDTE) para estabelecer correlações que possam ampliar o conhecimento dos defeitos induzidos por radiação em cristais iônicos e vidros óxidos. Estudaremos também a resposta desses materiais ao campo elétrico alternado no intervalo de freqüência entre 5Hz e 13MHz, através de medidas realizadas com um analisador de impedância 4192A da HP (atualmente Agilent Technologies). Para as medidas de CPTE e CDTE dispomos atualmente de apenas uma câmara porta-amostra. Em nosso projeto está incluída a instalação de uma nova câmara porta-amostra. Com isso nosso sistema de medidas será otimizado de forma que enquanto uma medida é realizada em uma câmara, uma amostra na outra câmara permanece em vácuo pronta para a próxima medida. (AU)