| Processo: | 01/10522-7 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado |
| Data de Início da vigência: | 01 de março de 2002 |
| Data de Término da vigência: | 28 de fevereiro de 2006 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada |
| Pesquisador responsável: | Elson Longo da Silva |
| Beneficiário: | Márcia Tsuyama Escote |
| Instituição Sede: | Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil |
| Vinculado ao auxílio: | 98/14324-0 - Multidisciplinary Center for Development of Ceramic Materials, AP.CEPID |
| Assunto(s): | Dielétricos Titanato zirconato de chumbo Filmes finos Materiais ferroelétricos |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Dieletricos | Ferroeletricos | Filmes Finos | Peroviskitas | Propriedades Fotoluminescentes | Pzt |
Resumo O projeto de pesquisa visa estudar materiais cerâmicos da classe de estruturas perovisquitas como PZT (PbTiO3-PbZrO3), BZT (BaZrO3-BaTiO3), SZT (SrTiO3-BaZrO3) na forma de filmes finos. Esses filmes finos serão estudados no seu estado cristalino e amorfo, e serão caracterizadas as suas propriedades elétricas e eletro-ópticas. Os filmes de PZT, BZT, SZT no seu estado amorfo serão estudados e analisados através das suas propriedades fotoluminescentes, com relação a presença de um formador de rede (Ti) ou com a presença de dois formadores de rede (Ti, Zr), bem como a presença dos modificadores de rede (Ba,Pb,Sr). Esses resultados serão comparados e será verificado a sua influência na estrutura eletrônica dos filmes amorfos. Os filmes finos com diferentes gradientes de concentrações do tipo PZT/PZT, BZT/PZT, serão caracterizados com relação às propriedades elétricas. (AU) | |
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