Construção e Caracterização de um Sistema de Movimentação Linear para Posicionamento de Amostras em SPMs.

• Processo: 07/05321-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de junho de 2008
• Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2008
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Varlei Rodrigues
• Beneficiário: Renata Bueno Alves
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Microscopia eletrônica de varredura Instrumentação
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: instrumentação | microscopia eletrônica de varredura | Posicionamento de amostra | Microscopia Eletrônica de Varredura

Resumo

O interesse pelos nanossistemas ganhou força nos últimos anos devido aos recentes avanços técnicos e intrumentais. Atualmente tornou-se possível a síntese, caraterização e manipulação de sistemas nanométricos de maneira relativamente bem controlada, além das novas capacidades de tratamento teórico devido aos avanços computacionais. Em particular, técnicas como microscopia de força atômica (Atomic Force Microscope - AFM) e microscopia por efeito túnel (Scanning Tunneling Microscope - STM) tem atendido largamente as necessidades de caracterização e manipulação de objetos em escala nanométrica. Nestes instrumentos, ditos de microscopia de varredura por sonda (SPM), uma das partes da operação consiste em aproximar a amostra da ponta de prova. O objetivo desta iniciação científica é a construção de um destes sistemas de aproximação inicial, baseado em piezo-atuadores. O projeto propiciará à aluna contato com diversos elementos importantes de desenvolvimento de instrumentos para pesquisa científica e também irá gerar informações necessárias para o desenvolvimento, já em andamento em nosso grupo, de um STM.