Propriedades eletronicas de sistemas de eletrons fortemente correlacionados investigadas por espectroscopia de raios-x.

• Processo: 03/11096-7
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de abril de 2004
• Data de Término da vigência: 31 de maio de 2004
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Helio Cesar Nogueira Tolentino
• Beneficiário: Cínthia Piamonteze
• Instituição Sede: Associação Brasileira de Tecnologia de Luz Síncrotron (ABTLuS). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Radiação síncrotron Espectroscopia de raio X Estrutura eletrônica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Espectroscopia De Raios X | Estrutura Eletronica | Luz Sincrotron | Perovskitas Distorcidas

Resumo

Esse projeto de pós-doutoramento visa o estudo da estrutura eletrônica de sistemas de elétrons fortemente correlacionados através de técnicas de espectroscopia de níveis profundos. Os sistemas a serem estudados, perovskitas de Ni e filmes finos de manganitas, exibem interessantes propriedades eletrônicas em função de temperatura ou aplicação de campo magnético. Tais propriedades não são completamente entendidas até o momento e têm movimentado uma grande frente na área de ciência de materiais. O uso da fonte de luz síncrotron é fundamental para obtermos uma descrição completa da estrutura eletrônica e geométrica destes sistemas complexos. A candidata fará uso da espectroscopia de raios-X com a ajuda de simulações teóricas dos espectros experimentais na busca do entendimento das modificações na estrutura eletrônica desses sistemas com a variação da temperatura e da tensão mecânica interna em filmes finos epitaxiais. (AU)