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Influencia da condicao superficial no monitoramento do ruido magnetica de barkhausen em materiais da aplicacao mecanica.

Processo: 05/54721-4
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Data de Início da vigência: 01 de maio de 2006
Data de Término da vigência: 31 de agosto de 2006
Área de conhecimento:Engenharias - Engenharia Mecânica
Pesquisador responsável:Linilson Rodrigues Padovese
Beneficiário:Marcia Marie Maru
Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Superfícies   Ensaios não destrutivos
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Barkhausen | Ensaio Nao Destrutivo | Superficie

Resumo

O objetivo do presente projeto é estudar a influência da condição superficial na medição do ruído magnético de Bakhausen (RMB), para fins de aplicação da medição como ensaio não destrutivo de inspeção de materiais. Essa técnica de monitoramento não destrutiva vem sendo estudada há alguns anos pela equipe de pesquisa coordenada pelo Prof. Dr. Linilson Padovese, no Departamento de Engenharia Mecânica da Escola Politécnica da Universidade de São Paulo, como demonstrado pelas recentes publicações no tema. Tem-se estudado a aplicabilidade da técnica para detecção de alterações microestruturais produzidas por tensão e deformação mecânicas e tratamentos térmicos, entre outros. Por outro lado, sendo o RMB gerado principalmente a partir das camadas mais superficiais do material, faz-se necessário investigar a influência de certas características inerentes à superfície, tais como rugosidade e oxidação, na medição do RMB. Além disso, há a necessidade de se caracterizar o alcance da medição em termos da profundidade de emissão do RMB até a superfície do material. Para tanto, serão produzidas amostras com diferentes condições de superfície, medindo-se o RMB nas mesmas e tendo como foco a obtenção de parâmetros de correlação do RMB com as condições superficiais geradas. Um procedimento para calibração do sensor de medição deverá ser obtido para as amostras analisadas em termos da profundidade de análise. (AU)

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