Síntese, caracterização estrutural e magnética de sistemas semicondutores nanométricos: óxidos e estruturas epitaxiais.

• Processo: 08/05717-2
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de novembro de 2008
• Data de Término da vigência: 31 de março de 2009
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Lisandro Pavie Cardoso
• Beneficiário: Juliana Marcela Abraão de Almeida
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Nanopartículas Difração por raios X Semicondutores Medidas magnéticas Óxidos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: difração de raios-X | Difração múltipla de raios-X | Medidas Magnéticas | nanoestruturas semicondutoras | Nanopartículas | oxidos | Difração de raios-X

Resumo

Este projeto é composto de dois subprojetos: i) o estudo do processo de síntese em sistemas nanométricos de óxidos semicondutores de CeO2 puros ou dopados com metais de transição e de suas propriedades estruturais e magnéticas, cuja motivação, além do interesse acadêmico, está nas possíveis aplicações na spintrônica; ii) o estudo estrutural de nanolayers semicondutoras GaxIn1-xP, de espessura variável, crescidas sobre substratos de GaAs(001) por Epitaxia de Feixe Químico (CBE), analisadas por difração múltipla de raios-X (DMRX), cuja motivação é obter informações estruturais não disponível por outras técnicas. Exemplos dessas informações são: análise da perfeição cristalina na superfície ou interface através dos picos Bragg-superfície (BSD); caracterização da estrutura pela detecção de picos híbridos que correspondem às contribuições simultâneas de diferentes redes presentes em uma única medida de DMRX; análise da distribuição de tensão na estrutura pelo mapeamento da condição exata de difração dos picos BSD complementada pelo mapeamento da rede recíproca das estruturas epitaxiais.