Eletrostática em isolantes: formação de domínios com excessos de cargas iônicas

• Processo: 06/61889-1
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de julho de 2008
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2010
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
• Pesquisador responsável: Fernando Galembeck
• Beneficiário: Camila Alves de Rezende
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Eletrostática Dielétricos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Eletrostatica | Filmes | Isolantes | Microscopia Analitica | Microscopia De Sonda | Polimeros

Resumo

Fenômenos eletrostáticos são de grande interesse tecnológico em diversas aplicações, mas apesar de já serem conhecidos há séculos, ainda são dificilmente reprodutíveis e previsíveis por falta de conhecimento científico básico. Neste grupo de pesquisa, estudos sobre a distribuição de cargas e a eletrização de isolantes vêm sendo desenvolvidos, sendo que foi demonstrada a presença de nanodomínios superficiais com excessos de cargas iônicas em dielétricos e a identificação dos portadores de carga foi feita em alguns casos. Este projeto tem como objetivo a detecção e caracterização de domínios com excesso de cargas (positivas ou negativas) existentes em superfícies sólidas de materiais dielétricos (por exemplo, polietileno, poli (tetrafluoretileno) (PTFE), vidro e sílica), especialmente os domínios formados quando superfícies sólidas são lavadas com líquidos comumente usados na sua limpeza. Os resultados obtidos permitirão progredir na compreensão das propriedades elétricas em isolantes e no conhecimento das espécies portadoras de carga nestes materiais. As principais técnicas de análise empregadas para caracterização das superfícies serão as microscopias de varredura de potencial eletrostático (SEPM), a varredura macroscópica feita pelo eletrodo de um voltímetro eletrostático (utilizando um sistema construído neste laboratório) e a espectroscopia por perda de energia de elétrons acoplada ao microscópio eletrônico de transmissão (EELS-TEM). (AU)