Obtenção de recobrimentos de hidroxiapatita para aplicação em biossensores

• Processo: 08/11329-5
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de junho de 2009
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2011
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Cecilia Amelia de Carvalho Zavaglia
• Beneficiário: Luci Cristina de Oliveira Vercik
• Instituição Sede: Faculdade de Engenharia Mecânica (FEM). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Técnicas biossensoriais Técnica de Langmuir-Blodgett Biomateriais Recobrimentos Hidroxiapatita
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Biomateriais | Biomimético | biossensores | hidroxiapatita | Langmuir-Blodgett | recobrimentos | Biomateriais

Resumo

Novas tecnologias impulsionam o desenvolvimento econômico. Em particular, o domínio da nano e biotecnologia será fundamental para aqueles paises que pretendam se incorporar ao conjunto de nações desenvolvidas. Um campo que conjuga os avanços de ambas as ciências é o de biossensores, o qual tem mostrado um crescimento surpreendente, somente comparável com o da microeletrônica. Inserido neste contexto, os desafios relacionados ao desenvolvimento de novos materiais e processos vêm recebendo grande atenção nos últimos anos. O objetivo do projeto é desenvolver e aprimorar técnicas de recobrimentos de hidroxiapatita em materiais utilizados em biossensores e BioMEMS. Os substratos de silício (Si) monocristalino e Si poroso utilizados durante o decorrer do trabalho serão recobertos com HA mediante os seguintes métodos: biomimético e filmes de Langmuir-Blodgett-biomimético. Estes sistemas têm muitas aplicações em biomedicina assim como na indústria de alimentos e farmacêutica. Os substratos de silício monocristalino serão caracterizados por difratometria de raios X (DRX) para confirmação da orientação da rede cristalina e por medidas de condutividade para caracterização elétrica. A concentração de dopantes dos substratos e a espessura dos recobrimentos de HA serão analisadas por medidas de capacitância e a porosidade do substrato de silício poroso será determinada por microscopia eletrônica de varredura (MEV) e por fotoluminescência. Os recobrimentos serão caracterizados por DRX com e sem incidência rasante, permitindo a identificação das fases cristalinas presentes, por espectroscopia no infravermelho (DRIFT) para determinação da presença de grupos funcionais característicos de cada recobrimento e por MEV e microscopia de força atômica (AFM) para análise da morfologia do material.