Analises estruturais microestruturais e quantitativas de fases de materiais eletronicos de interesse tecnologico.

• Processo: 96/09729-6
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de março de 1997
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 1999
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Maria Teresa da Silva Giotto
• Beneficiário: Maria Teresa da Silva Giotto
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Assunto(s): Método de Rietveld
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Materiais Policristalinos | Metodo De Rietveld | Relaxores

Resumo

1. Determinação da estrutura do composto Sn(C6H6O7), na forma policristalina, utilizando vários métodos, alguns dos quais serão implantados no Laboratório de Cristalografia do Instituto de Química de Araraquara-UNESP. 2. Análise quantitativa de fases e micro-estrutural (tamanho de cristalitos e microdeformação da rede) de amostras dos relaxores PMN (PbMg1/3/Nb2/3O3) dopados com Ti, utilizando o método de Rietveld. 3. Análises estruturais de cerâmicas PMN dopadas com Ti, preparadas por complexação orgânica de citratos. A caracterização estrutural e micro-estrutural destes materiais está diretamente relacionada com o interesse de melhorar a eficiência destes materiais em relação às suas propriedades elétricas. (AU)