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Crescimento e caracterização de heteroestruturais tensionadas de InxGal-xAs sobre GaAs

Processo: 92/00032-1
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Doutorado
Data de Início da vigência: 01 de abril de 1992
Data de Término da vigência: 15 de dezembro de 1992
Área de conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Máximo Siu Li
Beneficiário:Artemis Marti Ceschin
Instituição Sede: Instituto de Física e Química de São Carlos (IFQSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil

Resumo

Amostra de InxGa1-xAs crescida sobre substratos de GaAs (100) perfeitamente orientados e desorientados de alguns graus (2,3,4, e 6) na direção (I 10), pela técnica de MBE e que foram caracterizados por fotoluminescência (PL), serão agora caracterizados por espectroscopia Raman. Esse tipo de caracterização nos permitirá fazer uma comparação com os resultados de PL e assim concluir sobre o efeito da desorientação do substrato no crescimento epitaxial. Eventualmente, esperamos realizar o mesmo tipo de crescimento (InxGa1-xAs/GaAs) no nosso laboratório de MBE, mas dopando as amostras com Si (tipo n) para realizar possíveis caracterizações elétricas (efeito Hall, fotocondutividade). A redação da tese também deverá ser feita durante estes 12 meses de duração da bolsa. (AU)

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Publicações acadêmicas
(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)
CESCHIN, Artemis Marti. Crescimento e caracterização de heteroestruturas tensionadas de InxGa1-x-As/GaAs. 1992. Tese de Doutorado - Universidade de São Paulo (USP). Instituto de Física de São Carlos (IFSC/BT) São Carlos.