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Aplicação das técnicas de espectroscopia de absorção e difração de raios-X na caracterização estrutural de materiais

Processo: 96/12841-2
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Jovens Pesquisadores
Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 1997
Data de Término da vigência: 31 de julho de 1998
Área de conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
Pesquisador responsável:Valmor Roberto Mastelaro
Beneficiário:Valmor Roberto Mastelaro
Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:96/05249-0 - Aplicação das técnicas de espectroscopia de absorção e difração de raios-X na caracterização estrutural de materiais, AP.JP
Assunto(s):Cerâmica (materiais cerâmicos)   Tensão residual   Espectroscopia
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Ceramica | Estrutura | Exafs | Tensoes Residuais | Vidro | Xanes

Resumo

Este projeto tem como objetivo iniciar no DEMa-UFSCar uma nova linha de pesquisa voltada à utilização de técnicas de Espectroscopia de Absorção de Raios-X (EXAFS-XANES) e Difração de Raios-X na caracterização estrutural de materiais. Dois temas serão desenvolvidos: 1- Utilização da técnica de EXAFS-XANES no estudo da estrutura local em materiais amorfos e cerâmicas policristalinas, e 2- Utilização da técnica de difração de raios-X no estudo de tensões residuais em materiais parcialmente cristalizados. (AU)

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