Fibras ópticas amplificadoras de sílica dopadas com érbio

• Processo: 03/01163-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pesquisa Inovativa em Pequenas Empresas - PIPE
• Vigência (Início): 01 de abril de 2003
• Vigência (Término): 31 de dezembro de 2005
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica
• Pesquisador responsável: Carlos Kenichi Suzuki
• Beneficiário: Carlos Kenichi Suzuki
• Empresa Sede: Sun Quartz Indústria, Comércio e Manutenção de Dispositivos e Equipamentos para a Área de Telecomunicação Ltda. - ME
• Vinculado ao auxílio: 01/13406-8 - Fibras ópticas amplificadoras de sílica dopadas com érbio, AP.PIPE
• Assunto(s): Amplificadores ópticos Dopagem eletrônica Érbio Propriedades físico-químicas Deposição axial na fase vapor
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Amplificador Optico | Dopagem De Erbio | Fibras Amplificadoras De Erbio | Silica Germanica | Tecnologia Vad | Tempo De Vida Do Erbio

Resumo

A incumbência deste signatário envolverá o planejamento, orientação, e execução de todas as atividades no trabalho de desenvolvimento para a obtenção da preforma de sílica dopada com érbio, e posteriormente em fibras amplificadoras de érbio. Sendo a técnica de deposição axial fase vapor VAD, um processo bastante complexo, diversas frentes de trabalho estarão atuando simultaneamente em: (i) deposição de preformas porosas de sílica e sílica dopada com germânio, (ii) desidratação para eliminação de hidroxilas, (iii) consolidação para transformar a preforma porosa em preforma transparente e totalmente livre de micro-bolhas. (iv) analise de sistemas e automação do processo de fabricação (v) caracterização físico-químico das propriedades da preforma, e a correlação com os diversos parâmetros de processo. Especial ênfase será dada à atividade de dopagem do "soot" com érbio, a sua caracterização nos estágios subseqüentes de tratamento termoquímico, e no processo de consolidação. O trabalho de caracterização neste contexto também deverá se constituir numa atividade vital para o entendimento do fenômeno de agregação de érbio na estrutura da sílica. Medidas do tempo de vida por espectrometria de luminescência serão vitais para estimar a concentração de érbio ativo. (AU)