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Processo: | 93/01367-0 |
Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Mestrado |
Data de Início da vigência: | 01 de agosto de 1993 |
Data de Término da vigência: | 24 de setembro de 1995 |
Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada |
Pesquisador responsável: | Nilson Dias Vieira Junior |
Beneficiário: | Ricardo Elgul Samad |
Instituição Sede: | Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil |
Assunto(s): | Óptica não linear Técnica de varredura-Z Cristais fotorrefrativos Laser |
Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Laser | Optica Nao-Linear | Susceptibilidade Nao-Linear | Z-Scan |
Resumo O projeto visa a implementação da técnica "Z-Scan", que permite a medida do índice de refração não-linear n2 e portanto a medida da susceptibilidade não-linear de 3ª ordem em meios líquidos e sólidos. O sistema será calibrado e aferido, passando-se então ao estudo das propriedades ópticas não-lineares de cristais de interesse como candidatos a meio laser ativo, desenvolvido, pelo grupo (BaLiF3, YLiF4, LiF). (AU) | |
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