O magnetômetro a Efeito Kerr e o filme fino de Co/Si

Autor(es)

Hugo Bonette de Carvalho

• Tipo de documento: Dissertação de Mestrado
• Imprenta: Campinas, SP.
• Instituição: Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb Wataghin
• Data de defesa: 2002-02-26

Membros da banca

Maria José Santos Pompeu Brasil; Fernando Iikawa; Helio Cesar Nogueira Tolentino

• Orientador: Maria José Santos Pompeu Brasil; Marcelo Knobel

Resumo

O objetivo deste trabalho consiste no estudo e implementação da técnica de caracterização de filmes magnéticos através da montagem de um magnetômetro a efeito Kerr (MEK). Nesta dissertação discutimos primeiramente a fenomenologia associada ao efeito Kerr magneto-óptico. Na sequência apresentamos o magnetômetro e os procedimentos experimentais utilizados na obtenção das curvas de magnetização (histereses) de filmes magnéticos. Por último mostramos os resultados obtidos na caracterização das propriedades magnéticas e morfológicas de filmes finos de Co, depositados sobre substrato de Si (100) com espessuras na faixa de 30 a 950Å. Discutimos a correlação entre a rugosidade da superfície, a espessura e as propriedades magnéticas destes filmes. A microestrutura dos filmes foi caracterizada por difração de raios-x e por microscopia de força atômica (AFM - Atomic Force Microscopy). Utilizamos o MEK para investigar o processo de magnetização em função da orientação do campo magnético externo (anisotropia) e da temperatura. A caracterização dos domínios magnéticos foi realizada através de microscopia Kerr (AU)

• Processo FAPESP: 00/04984-5 - Sistema para investigação do efeito Kerr magneto-óptico
• Beneficiário: Hugo Bonette de Carvalho
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado