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DISPOSITIVO E MÉTODO PARA PADRONIZAÇÃO DE PRESSÃO DE ASSENTAMENTO E AFERIÇÃO DE MEDIDAS

EscritórioINPI
Tipo de documento:Patente
Inventor(es): Osvaldo Luiz Bezzon; Valéria Oliveira Pagnano De Souza; Natércia Carreira Soriani; Benedito Adolfo Soriani
Depositante:Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP); Universidade de São Paulo (USP).
Ano: 2005
Número do Pedido:PI 0505036-7
IPC: G01B 5/14
Resumo

DISPOSITIVO E MÉTODO PARA PADRONIZAÇÃO DE PRESSÃO DE ASSENTAMENTO E AFERIÇÃO DE MEDIDAS, compreende um dispositivo (DP) especialmente projetado e desenvolvido para padronizar a pressão de assentamento, no conjunto (C), formado pelo corpo-de-prova (CP) e pela matriz (M), durante a realização das leituras de aferição de medidas da distância entre os mesmos no Microscópio Óptico (MO), para obter maior constância nesta leitura, dita aferição das medidas é passível de ser realizada em diversos pontos do conjunto (C), permitindo assim maior exatidão nos resultados obtidos.


Processo FAPESP: 03/01896-6 - Estudo comparativo da fusibilidade e adaptacao marginal do titaneo puro processado por fundicao por cera perdida e de ligas de ni-cr, com e sem berilio.
Beneficiário:Osvaldo Luiz Bezzon
Pesquisador responsável:Osvaldo Luiz Bezzon
Instituição: Universidade de São Paulo (USP). Faculdade de Odontologia de Ribeirão Preto (FORP)
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular