Escritório | INPI |
Tipo de documento: | Patente |
Inventor(es): | Osvaldo Luiz Bezzon; Valéria Oliveira Pagnano De Souza; Natércia Carreira Soriani; Benedito Adolfo Soriani |
Depositante: | Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP); Universidade de São Paulo (USP). |
Ano: | 2005 |
Número do Pedido: | PI 0505036-7 |
IPC: | G01B 5/14 |
DISPOSITIVO E MÉTODO PARA PADRONIZAÇÃO DE PRESSÃO DE ASSENTAMENTO E AFERIÇÃO DE MEDIDAS, compreende um dispositivo (DP) especialmente projetado e desenvolvido para padronizar a pressão de assentamento, no conjunto (C), formado pelo corpo-de-prova (CP) e pela matriz (M), durante a realização das leituras de aferição de medidas da distância entre os mesmos no Microscópio Óptico (MO), para obter maior constância nesta leitura, dita aferição das medidas é passível de ser realizada em diversos pontos do conjunto (C), permitindo assim maior exatidão nos resultados obtidos.
Processo FAPESP: | 03/01896-6 - Estudo comparativo da fusibilidade e adaptacao marginal do titaneo puro processado por fundicao por cera perdida e de ligas de ni-cr, com e sem berilio. |
Beneficiário: | Osvaldo Luiz Bezzon |
Pesquisador responsável: | Osvaldo Luiz Bezzon |
Instituição: | Universidade de São Paulo (USP). Faculdade de Odontologia de Ribeirão Preto (FORP) |
Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Regular |