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MÉTODO DE MEDIÇÃO DE TENSÃO EM METAIS COM CORREÇÃO DO EFEITO DA MICROESTRUTURA

Tipo de documento:Patente
Inventor(es): Auteliano Antunes dos Santos Junior; Paulo Pereira Junior
Depositante: Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Data do depósito: 24 de maio de 2013
Registro INPI:
BR1020130128988
IPC: G01L 1/00 G01N 29/04 G01N 3/00
Resumo

MÉTODO DE MEDIÇÃO DE TENSÃO EM METAIS COM CORREÇÃO DO EFEITO DA MICROESTRUTURA Refere-se o presente pedido de patente de invenção a um 5 método não destrutivo de medição de tensão em metais. O método proposto utiliza ondas ultrassônicas longitudinais criticamente refratadas e compensa os efeitos devido à microestrutura do material. A principal aplicação do método proposto reside na medição de tensão mecânica em estruturas, chapas e componentes metálicos como estruturas de aeronaves, dutos, vasos de 10 pressão, componentes automotivos, dentre outros. A principal vantagem do método proposto é que este permite medir diretamente a tensão, descontando o estado inicial de referencia a partir das imagens geradas do material já sob tensão.


Processo FAPESP: 12/25174-9 - Avaliação do efeito da microestrutura na velocidade de propagação de ondas LCR utilizando arrays ultrassônicos
Beneficiário:Auteliano Antunes dos Santos Junior
Pesquisador responsável:Auteliano Antunes dos Santos Junior
Instituição: Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia Mecânica (FEM)
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular