Resumo
Este projeto se baseia na aquisição de um equipamento, difratômetro de raios X com acessórios para análises de padrão de difração, textura cristalográfica, tensão residual e filmes finos, uma vez que essas análises específicas não se encontram facilmente disponíveis no estado se São Paulo e possuem um número limitado de profissionais especialistas, dificultando o desenvolvimento de trabal…