Desenvolvimento de um espectrômetro de elétrons de conversão interna baseado no uso de diodos de Si

Resumo

O projeto de pesquisa proposto contempla o desenvolvimento de um espectrômetro de elétrons de conversão interna baseado no acoplamento de diodos de junção de Si a um sistema de pré-amplificação de impulsos, construído em nosso laboratório, visando sua aplicação em medidas de Física Nuclear ligadas às técnicas de ativação por nêutrons empregadas no IPEN. A pesquisa proposta envolve desde a montagem do diodo como detector, confecção das soldas dos eletrodos de polarização, coletor de cargas e anéis de guarda (atividades que serão desenvolvidas no Laboratório de Microeletrônica da Universidade de São Paulo), até o ajuste das constantes eletrônicas do transistor de efeito de campo (FET) no primeiro estágio de pré-amplificação dos sinais provenientes do diodo. A espectrometria de elétrons de conversão interna será estudada empregando-se fontes radioativas de 133Ba, 109Cd e 57Co, resfriando-se o diodo e o pré-amplificador de impulsos a uma temperatura de -30ºC, através de um dedo frio obtido com uma mistura de álcool etílico e nitrogênio líquido. Um estudo da contribuição da temperatura, pressão, ruído eletrônico, colimação do feixe incidente, largura da zona de depleção e janela morta do diodo, etc. na resolução em energia será realizado visando conduzir o espectrômetro à sua melhor condição de resposta. (AU)