| Processo: | 19/22131-6 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Iniciação Científica |
| Data de Início da vigência: | 01 de fevereiro de 2020 |
| Data de Término da vigência: | 31 de dezembro de 2021 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química |
| Pesquisador responsável: | Juliana Ferreira de Brito |
| Beneficiário: | Marcos Vinicius de Lima Tinoco |
| Instituição Sede: | Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil |
| Vinculado ao auxílio: | 13/07296-2 - CDMF - Centro de Desenvolvimento de Materiais Funcionais, AP.CEPID |
| Assunto(s): | Eletroquímica Fotoeletroquímica Semicondutores Deposição de filmes finos Difração por raios X Microscopia eletrônica de varredura |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Deposição de Metais | Resposta fotocatalítica | semicondutores | Eletroquímica |
Resumo Em vista da crescente demanda energética mundial, das perspectivas de esgotamento das reservas de combustíveis fósseis e do impacto ambiental causado devido a queima destes combustíveis, o presente projeto pretende investigar os métodos de deposição de platina (Pt) em filmes semicondutores de seleneto de antimônio (Sb2Se3) e seu impacto na resposta fotoeletroquímica do material, buscando o desenvolvimento de um material eficiente na conversão de energia solar em energia livre de carbono. Para tanto, os eletrodos de Sb2Se3 serão eletrodepositados sobre substrato de FTO (vidro revestido com óxido de estanho dopado com flúor) usando célula de um compartimento e três eletrodos estudando os métodos de deposição fotoquímica, eletroquímica e fotoeletroquímica. Os eletrodos serão analisados em função da composição estrutural, química e morfológica por meio da análise de difração de raios X (DRX), microscopia eletrônica de varredura (MEV), espectroscopia de energia dispersiva de raios X (EDX) e espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS). O comportamento fotocatalítico dos filmes será avaliado a partir da energia de band gap (Eg), medidas de fotocorrente vs. potencial e medidas cronoamperométricas para averiguar o comportamento e estabilidade dos filmes sob potencial constante e incidência transiente de luz. | |
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