| Processo: | 22/13144-0 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Doutorado Direto |
| Data de Início da vigência: | 01 de setembro de 2023 |
| Data de Término da vigência: | 30 de abril de 2028 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química |
| Pesquisador responsável: | João Batista Souza Junior |
| Beneficiário: | Victor Secco Lemos |
| Instituição Sede: | Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM). Campinas , SP, Brasil |
| Bolsa(s) vinculada(s): | 25/05077-9 - Estudos Estruturais Avançados em Nanopartículas de Óxido para Desenvolvimento da Função de Distribuição de Pares do Espalhamento Total de Elétrons, BE.EP.DD |
| Assunto(s): | Materiais nanoestruturados Caracterização estrutural Semicondutores Difração de elétrons Método de Monte Carlo Microscopia eletrônica de transmissão Função radial de distribuição de pares |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Caracterização estrutural avançada | Difração de Elétrons | Electron Pair Distribution Function (ePDF) | Monte Carlo Reverso | Nanomateriais | transmission electron microscopy | Nanomateriais |
Resumo Materiais semicondutores possuem uma elevada importância econômica, tecnológica e social, haja vista que atualmente a sociedade utiliza diariamente dispositivos eletrônicos que dependem destes materiais como TV, celulares, computadores e incontáveis outros componentes eletrônicos. Especificamente para os nanomateriais semicondutores, chamados quantum dots (QD), a obtenção de sistemas com elevado rendimento quântico de fluorescência e mobilidade eletrônica é essencial para otimização do uso de semicondutores em dispositivos eletrônicos. Invariavelmente, para obtenção de nanomateriais com melhor performance faz-se necessário o controle estrutural preciso das nanopartículas e, consequentemente, de técnicas de caracterização estrutural estatisticamente precisas e representativas capazes de avaliar a desordem estrutural a nível atômico dos QD sintetizados. Imagens de alta de resolução de Microscopia Eletrônica de Transmissão e Difração de elétrons são largamente utilizadas para tais caracterizações, mas cabe ressaltar que apenas algumas nanopartículas podem ser analisadas para cada amostra frente a dezenas ou centenas de milhares de nanopartículas presentes na amostra. Além disso, dados de difração exibem dificuldades na interpretação e correlação com fatores estruturais e de defeitos. Assim, novas técnicas avançadas de TEM e processamento de dados de ED são necessárias para suprir essa demanda de correlação estrutural e propriedades para nanomateriais. Neste projeto pretende-se desenvolver e aprimorar novas técnicas para tratamento de dados de Função de Distribuição de Pares por Difração de Elétrons (ePDF) através de novos softwares e abordagens de ajuste e reconhecimento de padrões estruturais, defeitos de ponto e empilhamento. Estes métodos computacionais englobando desde análise de cela unitária a Monte Carlo Reverso e algoritmos de Machine Learning servirão para aumentar o conhecimento e a aplicabilidade da ePDF, que é mais facilmente utilizada, mas tem menos softwares dedicados e técnicas associadas. (AU) | |
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