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(Referência obtida automaticamente do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Use of Cr Interlayer to Promote the Adhesion of SiC Films Deposited on Ti-6Al-4V by HiPIMS

Texto completo
Autor(es):
Abrão Chiaranda Merij [1] ; Tarcila Sugahara [2] ; Gislene Valdete Martins [3] ; Argemiro Soares da Silva Sobrinho [4] ; Danieli Aparecida Pereira Reis ; Polyana Alves Radi Gonçalves ; Marcos Massi
Número total de Autores: 7
Afiliação do(s) autor(es):
[1] Universidade Federal de São Paulo - Brasil
[2] Universidade Federal de São Paulo - Brasil
[3] Instituto Tecnológico de Aeronáutica. Departamento de Ciência e Tecnologia Aeroespacial - Brasil
[4] Instituto Tecnológico de Aeronáutica. Departamento de Ciência e Tecnologia Aeroespacial - Brasil
Número total de Afiliações: 7
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: MATERIALS RESEARCH-IBERO-AMERICAN JOURNAL OF MATERIALS; v. 18, n. 5, p. 904-907, 2015-10-00.
Resumo

AbstractIn this paper, chrome (Cr) thin films were deposited and used as interlayer between SiC films and Ti-6Al-4V substrates. Films and interlayers were obtained by using HiPIMS (High Power Impulse Magnetron Sputtering) technique. Interlayers were growth for 5, 30, and 60 minutes. The films were analyzed with respect to morphology, stoichiometry, thickness, roughness, and adhesion. The results showed that the HiPIMS technique was efficient to produce dense thin films and that the adhesion increased with Cr thickness. (AU)

Processo FAPESP: 11/50773-0 - Núcleo de excelência em física e aplicações de plasmas
Beneficiário:Ricardo Magnus Osório Galvão
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Temático