Grazing incidence X-ray diffraction and atomic force microscopy analysis of BaBi2 Ta2 O9 thin films

Mastelaro‚ V.R.; Foschini‚ C.R.; Varela‚ J.A.

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(Referência obtida automaticamente do Google Scholar, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Grazing incidence X-ray diffraction and atomic force microscopy analysis of BaBi₂ Ta₂ O₉ thin films

Texto completo
Autor(es):	Mastelaro‚ V.R. ; Foschini‚ C.R. ; Varela‚ J.A. Número total de Autores: 3
Tipo de documento:	Artigo Científico
Fonte:	Thin Solid Films; v. 415, n. 1, p. 57-63, 2002.

Processo FAPESP:	00/01991-0 - Síntese e caracterização de filmes finos e cerâmicas ferroelétricos
Beneficiário:	José Arana Varela
Modalidade de apoio:	Auxílio à Pesquisa - Temático


Processo FAPESP:	98/13678-3 - Caracterização microestrutural de filmes finos ferroelétricos de BBT (BaBi2Ta2O9)
Beneficiário:	Cesar Renato Foschini
Modalidade de apoio:	Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado

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