Espectroscopia de modulação em microestruturas semicondutoras

• Processo: 92/03439-5
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de janeiro de 1993
• Data de Término da vigência: 31 de dezembro de 1994
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Fernando Cerdeira
• Beneficiário: Fernando Cerdeira
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Semicondutores Heteroestruturas Propriedades ópticas Poços quânticos Super-redes
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Heteroestruturas | Propriedades Opticas | Semicondutores | Superredes E Pocos Quanticos

Resumo

Trata-se de renovar uma montagem experimental dedicada à medição de Refletividade e Absorção modulada por feixe secundário. Esta montagem vem sendo utilizada com bons resultados no estudo electrônico em microestruturas semicondutoras. Pretendemos expandir o intervalo espectral da montagem assim como implantar duas novas técnicas correlatas: medidas de absorção modulada sob pressão e medidas de fotorefletividade de excitação. Estas montagens serão utilizadas de imediato para o estudo de superredes de InGaAs/GaAs e Si/Ge e posteriormente no estudo e caracterização de microestruturas crescidas localmente. (AU)