Caracterizacao de materiais ceramicos por tecnicas de difracao de raios-x.

• Processo: 99/07449-4
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de outubro de 1999
• Data de Término da vigência: 30 de setembro de 2001
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Carlos de Oliveira Paiva Santos
• Beneficiário: Carlos de Oliveira Paiva Santos
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Assunto(s): Método de Rietveld Estrutura cristalina Difração por raios X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Analise Quantitativa De Fases | Difracao De Raios-X | Estrutura Cristalina | Largura Total A Meia Altura | Metodo De Rietveld | Tamanho De Cristalito

Resumo

Neste trabalho serão estudados (a) a incorporação do dopante Ni na estrutura cristalina do Zn7Sb2O12, (b) os efeitos da inclusão de dopantes em manganitas de lantânio, MgNb2O6, PbMg0.33Nb0.67O3, PbZr(x)Ti(1-x)O3 e hidroxiapatita, e (c) as características do perfil dos picos de Bragg em difratogramas obtidos na linha de XRD do LNLS em Campinas. As análises serão realizadas com o método de Rietveld, usando dados de difração de raios X. A radiação sincrotron será utilizada no caso (c). A análise quantitativa de fases será realizada nos casos (a) e (b), e a análise de tamanho de cristalito e microdeformação de rede será realizada para alguns materiais do caso (b). Atualizar os recursos computacionais do LabCACC. (AU)