Cristalografia estrutural como ferramenta na avaliacao de ligacoes dpi-s;de mecanismos de reacao de complexos contendo a unidade {ru-no} diante de tiois e na identificacao de compliexos tetrameros de ru(ii).

• Processo: 01/05819-0
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de outubro de 2001
• Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2004
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Eduardo Ernesto Castellano
• Beneficiário: Eduardo Ernesto Castellano
• Instituição Sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Difração por raios X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Complexos De Ru(Ii) | Difracao De Raios-X | Ensaios Cataliticos

Resumo

O presente projeto visa à aplicação das técnicas de determinação de estruturas por difração de raios-X em monocristais ao estudo das ligações e reações em complexos de Ru (II) e Ru (III) e à comparação dos resultados com aqueles provenientes de outras técnicas, tais como NMR, UV, IV, etc. Os objetivos específicos são a avaliação de ligações dPi-Sem complexos de Ru (III) contendo diferentes tipos de ligantes orgânicos, a analise dos mecanismos de reação de complexos do tipo [RuCl3(P-P) (NO)] (P-P = bifosfina) com tiois e o estudo da formação de tetrâmeros com formulação [RuCl2(PPh3)2(L-L)]. (AU)