Análise estrutural e microestrutural de materiais por difração por policristais

• Processo: 02/11735-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de julho de 2003
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2004
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Juan Alfredo Guevara Carrió
• Beneficiário: Juan Alfredo Guevara Carrió
• Instituição Sede: Unidade de Ensino de Americana. Centro Universitário Salesiano de São Paulo (UNISAL). Liceu Coração de Jesus. Americana , SP, Brasil
• Assunto(s): Cristalografia Difração por raios X Método de Rietveld
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Cristalografia | Drx | Materiais | Metodo De Rietveld

Resumo

No presente projeto pretende-se realizar trabalhos de análise estrutural que requerem o uso avançado da difração de raios X, como a aplicação do método de Rietveld (MR), avaliação das características microestruturais, e/ou análise quantitativa de fases. O projeto forma parte de uma colaboração em andamento entre o Centro UNISAL- Americana e o LIEC do IQ-Araraquara, e permitirá a implementação da análise estrutural por DRX em materiais poli-cristalinos em um grupo de pesquisa emergente, utilizando novos recursos computacionais e os recursos experimentais já disponíveis na região. A parte computacional será realizada com os recursos a serem implementados no Centro UNISAL. Os materiais a serem analisados estão sendo objeto de estudos no LIEC-Araraquara e são preparados por síntese química, mecânica ou mistura de óxidos. O LIEC/UNESP e o IQ possuem os equipamentos necessários para o desenvolvimento experimental do trabalho. Planeja-se orientar e treinar estudantes nos métodos de difração em pó e no MR. (AU)