Estudo das propriedades dielétricas e não-ôhmicas de sistemas policristalinos do tipo CaCu3Ti4O12 por espectroscopia dielétrica e de impedância

• Processo: 07/02843-4
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de novembro de 2007
• Data de Término da vigência: 31 de outubro de 2009
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Paulo Roberto Bueno
• Beneficiário: Paulo Roberto Bueno
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Assunto(s): Dielétricos Espectroscopia de impedância
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Dispositivos Dielétricos | Dispositivos Não-ôhmicos (Varistores) | espectroscopia de impedancia | Espectroscopia Dielétrica | Peroviskitas | Materiais Cerâmicos

Resumo

Este projeto tem por objetivo o estudo da origem das propriedades dielétricas gigantes (ao redor de 105) em sistemas policristalinos do tipo CaCu3Ti4O12 por técnicas de resposta em frequência, i.e. espectroscopia dielétrica e de impedância. Sistemas do tipo CaCu3Ti4O12 também possuem propriedades não-ôhmicas, cuja origem também não é totalmente compreendida. Com a utilização de tais técnicas seria possível esclarecer a correlações entre elas, permitindo separar os processos mediante aplicação de diferentes estados estacionários, especialmente diferentes temperaturas. Desta maneira, de forma mais precisa, as técnicas de espectroscopia dielétrica e impedância realizadas em diferentes temperaturas (abaixo da temperatura ambiente e acima da mesma) possibilitará separar os processos responsáveis pelas propriedades dielétricas e não-ôhmicas (bem como a influência do contorno de grão para tais propriedades) e estabelecer uma possível correlação entre elas, provavelmente relacionada a existência de cargas espaciais em regiões específicas do material (contorno de domínios dielétricos e grão). Desta forma, o desenvolvimento dos sistemas de baixa e alta temperatura para medidas de resposta em frequência é um dos objetivos centrais do projeto aqui proposto, visando à aplicação das técnicas de espectroscopia dielétrica e impedância de uma forma mais abrangente nestes materiais. (AU)