Ian G. Brown | Lawrence Berkeley Laboratory - Estados Unidos

• Processo: 01/10905-3
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Pesquisador Visitante - Internacional
• Data de Início da vigência: 17 de fevereiro de 2002
• Data de Término da vigência: 16 de março de 2002
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori
• Beneficiário: Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori
• Pesquisador visitante: Ian G. Brown
• Instituição do Pesquisador Visitante: Lawrence Berkeley National Laboratory, Estados Unidos
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Filmes finos Materiais nanoestruturados Vibrações Deposição química em fase de vapor assistida por plasma (PECVD) Intercâmbio de pesquisadores
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Afm | Deposicao Por Plasma | Filmes Finos | Modulo Elastico | Nanoestruturas | Vibracoes

Resumo

Determinação do Módulo Elástico de Filmes Finos Utilizando Vibração de Cantilevers - M.C. Salvadori, I.G. Brown, M. Cattani - A freqüência de ressonância de um cantilever depende de suas dimensões e do módulo elástico do material. Quando recobrimos um cantilever com um filme fino, estaremos modificando essa freqüência. A sistemática a ser utilizada constará da medida da variação de freqüência de ressonância de cantilevers para diferentes espessuras dos filmes de cada material em estudo. As constantes elásticas dos materiais serão determinadas através do modelo teórico de vibração elástica transversal de uma barra. A proposta é determinar os módulos elásticos de alguns materiais, incluindo platina e alumina, na forma de filmes finos, e compará-los aos respectivos valores na forma de "bulk". Eventuais discrepâncias nesses valores merecerão interpretações baseadas em propriedades de materiais nanoestruturados. (AU)