Beam interface roughness and periodicities in ge/si microstructures studied by experimental and numerically simulated raman scattering.

• Processo: 96/02898-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 21 de julho de 1996
• Data de Término da vigência: 26 de julho de 1996
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Fernando Cerdeira
• Beneficiário: Fernando Cerdeira
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 93/00915-3 - Heteroestruturas de semicondutores, AP.TEM
• Assunto(s): Semicondutores Interface Espalhamento de radiação Heteroestruturas
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Espalhamento De Luz | Heteroestruturas | Interfaces | Semicondutores