Residual stress measurement with synchrotron radiation in the brazilian synchroton light laboratory.

• Processo: 07/04083-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 24 de setembro de 2007
• Data de Término da vigência: 08 de outubro de 2007
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Áreas Clássicas de Fenomenologia e suas Aplicações
• Pesquisador responsável: Roosevelt Droppa Junior
• Beneficiário: Roosevelt Droppa Junior
• Instituição Sede: Associação Brasileira de Tecnologia de Luz Síncrotron (ABTLuS). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Difração por raios X Tensão residual
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Difracao De Raios X | Radiacao Sincroton | Tensoes Residuais | Difração de raios x