Protocolo de medidas de espalhamento de raios X a baixo ângulo, refletometria de raios X e de adsorção de gases de materiais porosos ordenados

• Processo: 08/09914-7
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Programa Capacitação - Treinamento Técnico
• Data de Início da vigência: 01 de abril de 2009
• Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2009
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Celso Valentim Santilli
• Beneficiário: Emilio Miguel Junior
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 07/53073-4 - Cerâmicas mesoporosas e hibridos orgânico-inorgânicos multifuncionais preparados pelo processo sol-gel, AP.TEM
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Adsorção de gás | Difração de raios X (XRD) | Espalhamento de raios X a baixo ângulo (SAXS) | Refletometria de raios X (RXRD) | Estrutura de Líquidos e Sólidos, Cristalografia

Resumo

O trabalho consiste na elaboração de um protocolo de medidas reprodutíveis de espalhamento de raios X a baixo ângulo (SAXS), utilizando fonte de radiação convencional e detectores image plate e sensível à posição. Medidas de refletometria de raios X (RXRD) de filmes finos de materiais porosos serão realizadas variando-se a orientação do feixe de raios X sobre a superfície da amostra. O trabalho também envolve o aprendizado e a determinação das condições de medidas de adsorção gasosa em sistemas porosos com estrutura bi-dimensional hexagonal e cúbica na forma de gaiola.