| Processo: | 18/24757-7 |
| Linha de fomento: | Bolsas no Exterior - Pesquisa |
| Vigência (Início): | 16 de dezembro de 2019 |
| Vigência (Término): | 31 de agosto de 2020 |
| Área do conhecimento: | Engenharias - Engenharia Mecânica - Processos de Fabricação |
| Pesquisador responsável: | Crhistian Raffaelo Baldo |
| Beneficiário: | Crhistian Raffaelo Baldo |
| Anfitrião: | Wim Dewulf |
| Instituição-sede: | Centro de Engenharia, Modelagem e Ciências Sociais Aplicadas (CECS). Universidade Federal do ABC (UFABC). Ministério da Educação (Brasil). Santo André , SP, Brasil |
| Local de pesquisa: | University of Leuven (KU Leuven), Bélgica |
| Assunto(s): | Tomografia computadorizada Microtomografia por raio X Incerteza de medição Metrologia Métodos híbridos de otimização |
Resumo A Tomografia Computadorizada (TC) industrial tem sido gradativamente incorporada ao laço de controle da qualidade dimensional das empresas. Em geral, peças de geometrias complexas com algumas centenas (ou mesmo milhares) de cotas (também relativas a geometrias internas) podem ser holisticamente inspecionadas com vantagens operacionais relevantes ante outras técnicas da metrologia por coordenadas, como as máquinas de medição por coordenadas com sensores tácteis ou ópticos. Entretanto, o complexo sistema de causas dos erros de medição dificulta sobremaneira assegurar a rastreabilidade à unidade de comprimento dos resultados de medição. Este projeto de pesquisa propõe o desenvolvimento das bases para uma abordagem híbrida de avaliação da incerteza da tarefa específica de medição executada por TC, apoiada em simulações computacionais. A abordagem proposta baseia-se na combinação de métodos para explorar as propriedades de diferentes contribuições para a incerteza, buscando reduzir a complexidade do modelo matemático da medição por TC e o requisito computacional inerente à simulação Monte Carlo. Para tanto, a modelagem da propagação da incerteza considerará a natureza das grandezas de influência, exigindo uma investigação extensiva dos fatores físicos dos raios X e dos fatores físicos e geométricos do sistema de medição por TC. (AU) | |
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