Reconhecimento de Padrões em Imagens de Espalhamento e Difração de Raios X

• Processo: 23/07965-3
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de outubro de 2023
• Data de Término da vigência: 30 de setembro de 2024
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Cristiano Luis Pinto de Oliveira
• Beneficiário: Gabriel Brito Granado
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Imagens
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Espalhamento e difração | Imagens | nanossistemas | Tratamento de Dados de Espalhamentos

Resumo

Propomos neste projeto o desenvolvimento de um conjunto de ferramentas computacionais para facilitar a análise de imagens bidimensionais de espalhamento de raios X a baixos ângulos. Para casos onde o sistema de estudo possui partículas aleatoriamente orientadas, as imagens de espalhamento possuem uma simetria azimutal e desta forma pode-se fazer uma integração e obter curvas unidimensionais. No entanto, para casos onde os componentes do sistema possuam algum grau de orientação, as imagens bidimensionais de espalhamento são anisotrópicas. Nestes casos pode-se fazer a análise da imagem como um todo ou realizar procedimentos de integração setoriais. Em ambos os casos os procedimentos são demorados e requerem bastante experiência do usuário. Com os recentes avanços experimentais em aparatos de laboratório como também em equipamentos de grande porte, é possível obter uma quantidade muito grande de imagens em um curto período. Como parte do processo é necessário realizar o processamento destes dados para a posterior análise. Com os desenvolvimentos propostos neste projeto, procedimentos automatizados de análise de imagem serão implementados, facilitando o tratamento e análise de dados.