Influência de efeitos externos nas propriedades de memória resistiva de filmes de óxidos metálicos semicondutores

• Processo: 23/17490-2
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de abril de 2024
• Situação: Interrompido
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Victor Lopez Richard
• Beneficiário: Ana Luiza Costa Silva
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Bolsa(s) vinculada(s): 24/17787-8 - Dinâmica de superfície e fenômenos de memória em filmes finos de óxido crescidos por deposição de camada atômica assistida por plasma, BE.EP.PD
• Assunto(s): Sensores Semicondutores
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: dinâmica de portadores | Fenômenos Eletroquímicos | Memristores | Sensores | sistemas fora do equilíbrio | Semicondutores

Resumo

A crescente demanda por tecnologias de processamento de informação e sensoriamento mais avançadas, menores e mais eficazes impulsiona a procura pormateriais semicondutores de processamento simplificado, custo acessível, ecologicamente sustentáveis e com desempenho adequado para aplicações específicas.Um fenômeno intrigante que surge em dispositivos eletrônicos a base de óxidos semicondutores é o chamado efeito de memória resistiva. Comumente os materiais que exibem tal efeito são fabricados seguindo a estrutura metal-isolante-metal onde a camada isolante pode ser formada por um óxido semicondutor. No entanto, efeitos de memória resistiva também são observados em dispositivos em que a configuração é composta por contatos elétricos planares laterais. A compreensão dos mecanismos de condução eletrônica em configurações não convencionais, como contatos laterais, revela outras nuances relativas ao papel de outras variáveis, além da tensão elétrica, que influenciam os comportamentos memristivos dos materiais. Dentre muitas possíveis abordagens, a descrição do papel da superfície nesses processos é desafiadora. Este projeto de pesquisa de pós-doutorado visa realizar uma investigação sistemática sobre como fatores externos, como luz, atmosferas controladas e variação nos estímulos elétricos, impactam a dinâmica das propriedades de memória resistiva em filmes de óxidos metálicos semicondutores, em especial aqueles com geometria de contatos planares. O papel ativo da superfície dos filmes pode atuar como fator preponderante nos efeitos de memória de óxidos semicondutores. O projeto permitirá combinar experimento com teoria através da interação entre os grupos de Óxidos Semicondutores e de Nanoestruturas Semicondutoras da UFSCar.