Fatores determinantes na formação e nas propriedades morfológicas e estruturais de arranjos nanoestruturados de nanopartículas Au

• Processo: 07/00629-5
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de julho de 2007
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2008
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Daniela Zanchet
• Beneficiário: Edvaldo Alves de Souza Junior
• Instituição Sede: Associação Brasileira de Tecnologia de Luz Síncrotron (ABTLuS). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: colóides | filmes nanoestruturados | Langmuir-Blodgett | Nanobastões | Nanopartículas | Ouro | Materiais nanoestruturados

Resumo

Diferentes propriedades físicas e químicas poderão ser obtidas com a formação de arranjos nanoestruturados de NPs. Desenvolver e aprimorar técnicas que permitam manipular nanopartículas (NPs) representa ainda um desafio e é de fundamental importância para a formação de novos materiais e avanço tecnológico. A técnica de deposição de Langmuir-Blodgett é uma forma simples de se produzir monocamadas e arranjos nanoestruturados, sendo um importante método para o estudo de nanopartículas, tanto de um ponto de vista científico quanto tecnológico. Considerando que os arranjos nanoestruturados apresentam propriedades físicas dependentes da distância entre NPs, bem como da sua forma, propõe-se neste projeto controlar as distâncias entre as NPs de arranjos nanoestruturados e estudar como as diferentes distâncias entre as NPs de Au podem influenciar na formação de arranjos uniformes. NPs serão obtidas por síntese aquosa, e em seguida transferidas para um meio orgânico, próprio para aplicação na cuba de Langmuir. As NPs serão caracterizadas quanto a sua forma e distribuição através das técnicas de microscopia eletrônica de transmissão (TEM, Transmission Electron Microscopy) e espalhamento de raios-X a baixos ângulos (SAXS, Small-Angle X-Ray Scattering). Os arranjos nanoestruturados serão caracterizadas estruturalmente por Microscopia eletrônica de varredura (SEM, Scanning Electron Microscopy) e difração de raios-X em ângulos rasantes (GID, Grazing Incidence Diffraction). (AU)