Caracterizacao termica de filmes finos atraves da microscopia fototermica.

• Processo: 97/04566-4
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de agosto de 1997
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 1998
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Antonio Manoel Mansanares
• Beneficiário: Laura Ramos de Freitas
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Filmes finos Microscopia fototérmica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Difusidade Termica | Filmes Finos | Microscopia Fototermica | Onda Termica

Resumo

O objetivo deste projeto é realizar medidas em filmes finos metálicos sobre substratos de vidro, utilizando a Microscopia Fototérmica de Reflexão, para a determinação de sua difusividade térmica. As seguintes etapas estão previstas: i. Modelizar o fenômeno a ser estudado: calcular a amplitude e a fase da onda térmica levando em conta as reflexões na interface filme/substrato. ii. Realizar medidas em filmes finos de ouro depositados sobre vidro (monocamadas com espessuras em torno de 100 nm), variando a distância entre os feixes. As medidas serão repetidas para um conjunto de freqüências apropriadas, indicadas pela modelização. Fazer ajuste de curvas para a obtenção da difusividade térmica. iii. Realizar, medidas em filmes de multicamadas magnéticas (Co/Pd, aproximadamente 20 camadas de cerca de 5 nm) sobre substrato de Si ou de vidro, variando a distância entre os feixes. As medidas serão repetidas para um conjunto de freqüências apropriadas, indicadas pela modelização. Fazer ajuste de curvas para a obtenção da difusividade térmica. (AU)