Preparacao e caracterizacao de filmes finos de carbono-nitrogenio.

• Processo: 02/00654-6
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de junho de 2002
• Data de Término da vigência: 31 de maio de 2003
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Fernando Alvarez
• Beneficiário: Andre Santarosa Ferlauto
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 97/12069-0 - Propriedades estruturais, ópticas e de transporte em semicondutores amorfos, AP.TEM
• Assunto(s): Filmes finos Propriedades estruturais Materiais amorfos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Filmes Finos | Liga Carbono-Nitrogenio | Materiais Amorfos | Propriedades Estruturais | Propriedades Optoeletronicas

Resumo

Filmes finos de carbono e nitrogênio (CNJ têm atraído um grande interesse científico e tecnológico nos últimos anos. Diversos trabalhos têm demonstrado que os compostos CNX apresentam propriedades mecânicas (altos valores de dureza e elasticidade), eletrônicas e óticas (largo gap) interessantes, passíveis de serem aproveitadas em diversas aplicações como, por exemplo, recobrimento duros e camadas de proteção. Além disso, pesquisas recentes indicam que, em certos casos, a formação de nanoestruturas do tipo fullemo é observada nestes materiais. Entretanto, o entendimento das características estruturais destes materiais, a relação destas características com suas propriedades macroscópicas finais, e a influência das condições de preparo nestas propriedades, ainda permance incompleto. Neste projeto de pesquisa pretende-se investigar as características estruturais e propriedades de filmes finos de CNX preparados pelo método de deposição assistida por feixes iônicos (dual ion beam assisted deposition). Este método permite o controle dos processos de bombardeamento dos filmes durante o crescimento. Os filmes obtidos serão analisados por uma série de técnicas de caracterização com o intuito de estabelecer uma relação detalhada entre as propriedades finais do filme e as condições de preparo. Em particular, pretende-se investigar a formação e caracterização de nanostruturas do tipo fullereno nestes filmes. (AU)