Efeitos da orientacao cristalografica na laminacao de encruamento e no recozimento final de acos eletricos semi-processados.

• Processo: 04/14503-5
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2005
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2006
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Metalurgia Física
• Pesquisador responsável: Hans-Jürgen Kestenbach
• Beneficiário: Cinthia Elisa Souza Dias
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Textura Aço elétrico Microscopia eletrônica Microdureza
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Acos Eletricos | Discordancia | Microdureza | Microscopia Eletronica | Recristalizacao Secundaria | Textura

Resumo

Serão investigados os efeitos da orientação cristalográfica em aços elétricos de grão não orientado, primeiramente sobre o grau de deformação atingido após a laminação de encruamento, e depois sobre o crescimento de grão durante o recozimento final. Como técnicas experimentais, serão utilizadas microscopia eletrônica de varredura para acompanhar a orientação de grãos individuais via EBSD ("Electron Back Scattered Diffraction"), microscopia eletrônica de transmissão para estudar a subestrutura de discordâncias em grãos individuais em função da sua orientação cristalográfica, e medidas de microdureza para determinar a energia armazenada e a sua variação durante o recozimento. Uma parte importante do projeto servirá como trabalho experimental de uma dissertação de mestrado. A futura bolsista de iniciação cientifica, Cinthia Elisa Souza Dias, desenvolverá a sua parte do trabalho sob supervisão direta do aluno de mestrado, o engenheiro de materiais Sérgio Funayama de Castro. (AU)