Influencia da zirconia nas propriedades dieletricas e fotoluminescentes do cacu3ti4o12.

• Processo: 07/54304-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2008
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2010
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
• Pesquisador responsável: Elson Longo da Silva
• Beneficiário: FRANCISCO MOURA FILHO
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 98/14324-0 - Multidisciplinary Center for Development of Ceramic Materials, AP.CEPID
• Assunto(s): Dielétricos Materiais piezoelétricos Espectroscopia de impedância Fotoluminescência Microscopia de força atômica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Dieletricos | Espectroscopia De Impedancia | Fotoluminescencia | Microscopia De Forca Atomica | Piezoeletricos

Resumo

Cerâmicas à base de CaCu3Ti4O12 (CCTO) têm despertado grande interesse cientifico e tecnológico após a descoberta da permissividade dielétrica gigante de aproximadamente 105, principalmente por não apresentar uma transição de fase ferroelétrica ou comportamento relaxor comparado aos demais titanatos. Entretanto, a explicação da origem de ambas as propriedades, ainda não está bem esclarecida, despertando grande interesse entre os pesquisadores. Neste projeto de pesquisa, pretende-se obter a cerâmica CCTO pura e modificada com zircônia pelo método de mistura de óxidos e estudar a fotoluminescência em função do grau de ordem e desordem dos pós preparados pelo método dos precursores poliméricos. Variáveis do processamento (temperatura, m tempo, atmosfera etc.) serão controladas e correlacionadas com as propriedades obtidas. Aliada a essas técnicas, análises por Espectroscopia de Raios-X (XPS - X-Ray Photoelectron Spectropy) e Difração de Raios-X (DRX) permitirão estimar o tipo de defeitos desenvolvidos nas cerâmicas durante o processamento. Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) será empregada para analisar precipitados nos contornos de grão e pontos triplos. O conjunto das técnicas e microanálises por AFM no interior do grão, no contorno e na região difusa entre eles, poderão fornecer informações importantes para entender a correlação entre a estrutura, microestrutura e as propriedades macroscópicas do material. A espectroscopia no infravermelho permitira analisar os diferentes modos de vibração molecular apresentados pelo material enquanto medidas de fotoluminescência serão coletadas em um fotomultiplicador com laser de comprimento de onda conhecido. A espectroscopia UV-VIS será utilizada para o cálculo do "gap" dos pós amorfos enquanto um analisador de impedância permitirá determinar a permissividade e perda dielétrica em função da freqüência. (AU)