| Processo: | 99/00046-1 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado |
| Data de Início da vigência: | 01 de maio de 1999 |
| Data de Término da vigência: | 30 de abril de 2002 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada |
| Pesquisador responsável: | Sérgio Luiz Morelhão |
| Beneficiário: | Luis Humberto Avanzi |
| Instituição Sede: | Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil |
| Assunto(s): | Semicondutores |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Dfracao Multipla | Materias Organicos | Radicao Sincrontron | Raios-X - Difracao | Semicondutores |
Resumo A aquisição do goniômetro ômega: phi através do Auxílio a Pesquisa da FAPESP (processo nº 97/13757-8), abre uma nova perspectiva para aplicações e desenvolvimentos da difração de raios X no estudo de materiais cristalinos. Neste projeto, pretendemos usar o goniômetro para: 1) Investigar a Polarização da Radiação Síncrotron por Varredura phi, e 2) estudar o Efeito do Campo Elétrico na Perfeição de Cristalina de Cristais Orgânicos. Os estudos são inéditos e de interesse nas áreas de materiais magnéticos e de óptica não-linear. (AU) | |
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