Desenvolvimento e implementação de ferramenta de análise de algoritmo de otimização de planos de teste de unidades funcionais em circuitos BIST

• Processo: 01/05478-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de agosto de 2001
• Data de Término da vigência: 31 de julho de 2002
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia Elétrica - Circuitos Elétricos, Magnéticos e Eletrônicos
• Pesquisador responsável: Wang Jiang Chau
• Beneficiário: Joao Carlos da Cunha Davison
• Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Algoritmos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Algoritmos | Bist | Otimizacao | Programacao Oo | Testabilidade | Teste De Cis

Resumo

Este projeto enquadra-se dentro de uma abordagem de auto-teste incorporado (BIST) de circuitos integrados, em que existe uma síntese estrutural de teste após a fase de síntese de alto nível (arquitetural), consistindo na transformação da arquitetura em nível de transferência entre registradores (resultante de sistemas de síntese de alto nível) em outra descrição no mesmo nível com componentes BIST. Tal síntese é orientado por alguns algoritmos para otimização de planos de teste de unidades funcionais da via de dados do circuito. Um plano de teste define a sequência em que as unidades funcionais são testadas, os registradores que devem ser transformados em geradores de padrões (pseudo-aleatórios) de teste, ou analisadores de assinatura, e as regras de computação, associadas aos registradores transformados, os quais fixam a sequência pseudo-aleatória; para um conjunto particular de valores de parâmetros existe um número máximo de unidades funcionais que podem ser testados concorrentemente (grau máximo de paralelismo). Este projeto de iniciação científica prevê o desenvolvimento de ferramentas de CAD a serem implementados em linguagem orientada a objetos (C++) que auxiliem o projetista do Cl na escolha do paralelismo de teste desejado, indicando automaticamente a sua correlação com a variação da área ocupada e tempo total de teste. (AU)