Caracterizacao de san, abs e blendas san/abs por espectroscopia de fotoeletrons excitados por raios x.

• Processo: 03/12698-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de junho de 2004
• Data de Término da vigência: 31 de maio de 2005
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Pedro Augusto de Paula Nascente
• Beneficiário: Mariana Leme de Calais
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Caracterização estrutural Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X ABS Blendas
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Abs | Blenda | Caracterizacao De Materiais | Espectroscopia De Fotoeletrons | San | Xps

Resumo

O principal objetivo deste trabalho é investigar a composição atômica, química e estrutural dos polímeros SAN, ABS e blendas de ABS/SAN por espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS). Estas blendas possuem aplicações em vários segmentos da indústria automobilística e eletro-eletrônica. XPS é uma técnica espectroscópica sensível à superfície e ao ambiente químico do átomo emissor, sendo útil na caracterização química e estrutural de superfícies e interfaces de materiais; será usada na análise dos polímeros puros (SAN e ABS) e da blenda ABS/SAN. (AU)