Aplicação da difração de raios X e nêutrons em materiais cerâmicos ferroelétricos

• Processo: 98/13389-1
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de janeiro de 1999
• Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2000
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Juan Alfredo Guevara Carrió
• Beneficiário: Juan Alfredo Guevara Carrió
• Instituição Sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Cristalografia Nêutrons Raios X Método de Rietveld Materiais cerâmicos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Ceramicas | Cristalografia | Materiais | Neutrons | Raios X | Rietveld

Resumo

Caracterização estrutural de materiais cerâmicos ferroelétricos sob forma de pós, corpos cerâmicos e filmes finos. Pretende-se, especialmente, caracterizar as soluções sólidas PbTiO3 - PbZrO3, (Sr,Ba)Nb2O6 dopado com terras raras e (Pb,Ba)Nb2O6. Será utilizado o método de Rietveld com difração de raios X de fonte convencional e síncrotron (LNLS). Colaboração na fase de instalação do difratômetro de nêutrons no IPEN e no estabelecimento da metodologia de analise estrutural, evidenciando sua complementaridade com as mesmas técnicas usando raios X. (AU)