Transmission electron microscopy characterization of manostructured systems.

• Processo: 98/06667-5
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 1998
• Data de Término da vigência: 30 de abril de 1999
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Mario Sergio Jesus Moreno
• Beneficiário: Mario Sergio Jesus Moreno
• Instituição Sede: Associação Brasileira de Tecnologia de Luz Síncrotron (ABTLuS). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Difração de elétrons
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Difracao De Eletrons | Microscopio Eletronica | Nano Estruturas | Nano Particulas

Resumo

One of the most promising lines of synthetic materials research consists in the development of nanostructured systems (nanocomposites), where transmission electron microscopy (TEM) studies represent a fundamental characterization tool, and unfortunately, these methods are not widely used in Brazil, although several research group activities dela with nanosystems. The aim of this project is to apply transmission electron microscopy techniques to study different nanostructured systems, and we expect that this post-doctoral stay will help to develop this field in Brazil. (AU)